Reliability enhancement in thin film transistors using Hf and Al co-incorporated ZnO active channels deposited by atomic-layer-deposition

W2894620116 · 수집 2026-10-04 18:15:40

T10623 Thin-Film Transistor Technologies

CoT 라벨링

라벨링 전

저장된 PDF 없음

기본 정보

DOI 제목 발행년도 저널 URL 페이지 열기 PDF URL PDF 열기 발행기관 피인용수 라이선스

추가 정보 초록 본문

PDF 본문 자동 추출 실패: [download] HTTP 403 Forbidden (2026-10-06 01:45:08)

활용가능성

아직 편집 이력이 없습니다. 저장할 때마다 이전 내용이 여기에 백업됩니다.